XUL系列型号的X射线荧光光谱仪,设计紧凑,用于测量镀层厚度和分析材料。X射线源和探测源位于测量室下方,样品可以直接放置在测量台上轻松定位。尽管结构紧凑,但是XUL型仪器配置了大体积的测量腔和手动控制的XY工作台,是测量电镀件(如:螺丝,螺钉或螺帽,或装饰镀层)的理想选择。另外,电镀液的金属含量也可以快速而方便的分析。XULM型仪器是专为测量细小工件而设计的。它配置了微距焦X射线管、可自动切换的准直器和多种基本滤波器,特别适合于测量微小样品,如:插针、接插件和线材以及对印刷电路板的手动测量。
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FISCHERSCOPE® XUL®
耐用且价廉的X射线荧光测试仪器,可无损测量镀层厚度和进行材料分析
FISCHERSCOPE® XULM®
可在微小样品上测量镀层厚度(包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等)和进行材料分析
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