X-RAY XUV 733型X射线荧光测试仪配备了一个大空间且可抽真空的测量腔,配合大接收面的硅漂移探测器,可以检测到能量低至1keV的荧光辐射,这样就可以对元素Na和Mg,以及Zn、Cu、Ni的L峰进行检测。大尺寸的准直器,以及随之而来的超高计数率,使仪器可以达到极低的检测极限和极高的测量重复性,因而能得到更高的测量准确度。
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FISCHERSCOPE X-RAY XUV 733型高性能X射线荧光测试仪,配有真空室,适用于材料无损分析。
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